fct功能测试系统概述
功能测试(ft:functional test或fct:functional circuit test)指的是对测试目标板(uut:unit under test)的提供模拟的运行环境,加载合适的激励或负载,使uut工作于各种设计、工作状态,从而获取uut点的输出参数和响应情况,fct功能测试系统,进行验证uut的功能是否---的测试方法,测量输出端响应是否合乎要求。
fct测试系统接口
每个被测对象(uut)具有不同的信号激励点和信号获取点,这些都需要一个接口以实现uut 和te的信号连接,此接口即测试接口适配器ita。ita负责完成uut 和te 的机械与电气连接,为te各个信号点和uut各个信号点路由路径。
由于uut的输入输出管脚数量较多,信号种类复杂,为满足自动测试设备的通用性,在ita设计时,fct功能测试系统价格, 必须采用多通道开关,(1)是对pcb的信号通道进行自动切换;(2)是对pcb的信号进行调理,使调理后的信号能够满足测试仪器的量程范围;(3)是对pcb和测试仪器的保护,避免操作失误或外界干扰而对pcba和测试设备造成损坏。
fct功能测试治具定位原理
以“孔/孔”定位
对于狭长形的uut,由于其容易变形,使用上述1和2的方式均需要用到电路板的外缘轮廓,因此并不准确,此时应采用双孔定位。注意对于变形较大的uut,fct功能测试系统多少钱,此孔的位置也不宜选在电路板的两端,但两孔间距也不宜过小,设计时定位柱和定位孔的间隙适量放大,一般在0.1mm~0.3mm。综上可见,电路板的定位对于治具设计---重要,fct功能测试系统,不同的定位方式直接影响到定位精度及测试设备的结构, 因此定位方式的选择很重要。综合考虑以上各种现行方案的优缺点,设计为 “一面两空”的定位方式,如下如所示,即利用uut的一个平面和两个(或多个)定位孔,特点是制取方法容易、夹具结构简单、制造加工容易,、满足精度要求。
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